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高低溫真空探針臺(tái)4探針探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
更新時(shí)間：2024-03-27
產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z1604T-RL
瀏覽量：1977
低價(jià)的低溫室溫真空探針臺(tái)KT-Z165M4RT精巧型真空腔體測(cè)試腔主要用于氣體敏感材料或其他對(duì)環(huán)境敏感性材料中的電信號(hào)測(cè)試。測(cè)試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺(tái)，臺(tái)面為φ30，臺(tái)面高可升溫到高400℃。
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z1604TZ瀏覽量：1847
低溫真空探針臺(tái)鄭科探主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：2137微型真空探針冷熱臺(tái)探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：2157半導(dǎo)體行業(yè)真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z1604T-RL瀏覽量：1827
