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1000度高溫熱臺 紅外發射率測試 硅片退火爐主要用于在高溫下觀察和分析材料微觀結構的變化。這類設備能夠在控制的真空或氣氛環境中加熱樣品至高達1000度攝氏度，同時利用顯微鏡進行實時或實驗后的微觀結構...
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1000度高溫熱臺 紅外發射率測試 硅片退火爐主要用于在高溫下觀察和分析材料微觀結構的變化。這類設備能夠在控制的真空或氣氛環境中加熱樣品至高達1000度攝氏度，同時利用顯微鏡進行實時或實驗后的微觀結構...
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超高溫1200℃真空測試腔 器件高溫測試系統主要用于在高溫下觀察和分析材料微觀結構的變化。這類設備能夠在控制的真空或氣氛環境中加熱樣品至高達1000度攝氏度，同時利用顯微鏡進行實時或實驗后的微觀結構觀...
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1000度高溫熱臺 真空退火爐 快速升溫爐主要用于在高溫下觀察和分析材料微觀結構的變化。這類設備能夠在控制的真空或氣氛環境中加熱樣品至高達1000度攝氏度，同時利用顯微鏡進行實時或實驗后的微觀結構觀察...
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濕度環境模擬 氣體加濕 氣敏傳感器測試，可以外接兩種或多種氣體,采用質量流量計控制氣體流量,氣路管道采用316拋光管制作耐腐蝕性強.氣路接頭采用全不銹鋼雙卡套快速接頭,方便連接且不易泄漏 系統可耐0...
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小型真空探針臺 太陽能電池測試夾具，可預留接口以備安裝電子閥及流量計之用，充入其它氣體使用，溫度范圍為77.15K至673.15K（-196攝氏度到400攝氏度）
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常溫半導體測試 氣敏測試 大氣探針臺是一種用于半導體器件電性能測試的重要設備，通常由精密的機械結構、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺可以對半導體芯片、集成電路和其他微電子器件進行直接的電性...
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大氣探針臺 電信號測試是一種用于半導體器件電性能測試的重要設備，通常由精密的機械結構、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺可以對半導體芯片、集成電路和其他微電子器件進行直接的電性能測試，從而為...
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環境敏感性材料真空測試腔體主要用于氣體敏感材料或其他對環境敏感性材料中的電信號測試。測試腔體內部裝有不銹鋼加熱承載臺，臺面為50x50mm，臺面最高可升溫到最高350℃。該腔體設計有進氣口和抽真空接口...
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